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科技
多次測量取平均值的物理實(shí)驗(yàn)，方法如下：
1、刻度尺測物體長度，多次測量取平均值；
2、伏安法測導(dǎo)體電阻，多次測量取平均值；
3、探究平面鏡成像特點(diǎn)，多次測量取平均值；
4、探究杠桿平衡條件，多次測量取平均值；
5、探究串聯(lián)或并聯(lián)電路的電流特點(diǎn)，多次測量取平均值，減少誤差。
