平面度的計算方法如下：1、平晶干涉法：用光學平晶的工作面體現(xiàn)理想平面，直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測表面的平面度誤差值。主要用于測量小平面。2、打表測量法：打表測量法是將被測零件和測微計放在標準平板上，以標準平板作為測量基準面，用測微計沿實際表面逐點或沿幾條直線方向進行測量。打表測量法按評定基準面分為三點法和對角線法。3、液平面法：液平面法是用液平面作為測量基準面，液平面由 “連通罐”內(nèi)的液面構(gòu)成，然后用傳感器進行測量。此法主要用于測量大平面的平面度誤差。4、光束平面法：光束平面法是采用準值望遠鏡和瞄準靶鏡進行測量，選擇實際表面上相距最遠的三個點形成的光束平面作為平面度誤差的測量基準面。